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Product Center當前位置:首頁產(chǎn)品中心實驗室儀器ST2263雙電測數(shù)字式四探針測試儀
ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀 是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。
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相關文章品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應用領域 | 環(huán)保 |
ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀是運用直線或方形四探針雙位測-改進形范德堡測量方法測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數(shù)據(jù)進行雙電測分析,自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結(jié)果的影響,它與單電測直線或方形四探針相比,大大提高度,特別是于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
ST2263型雙電測數(shù)字式四探針測試儀成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
ST2263型主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打??!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。
測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入
ST2263型具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試,特別是于斜置式四探針對于微區(qū)的測試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
電 阻:1×10-5~2×105 Ω ,分辨率:1×10-6~1×102 Ω
3.2 材料尺寸(由選配測試臺決定和測試方式?jīng)Q定)
直 徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7 外形尺寸:
主機 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)
產(chǎn)品名稱:數(shù)字式四探針測試儀 產(chǎn)品型號: ST2253 |
數(shù)字式四探針測試儀 型號: ST2253
概述
ST2253型數(shù)字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。
儀器成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺以及PC軟件等部分組成。
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統(tǒng)組成,USB通訊接口。儀器主機所有參數(shù)設定、功能轉(zhuǎn)換全部采用數(shù)字化鍵盤和數(shù)碼開關輸入;具有零位、滿度自校功能;測試功能可自動/手動方式;儀器操作可由配套軟件在PC機上操作完成,也可脫PC機由四探針儀器面板上獨立操作完成。測試結(jié)果數(shù)據(jù)由主機數(shù)碼管直接顯示,也可連機由軟件界面同步顯示、分析、保存和打印!
探頭選配:根據(jù)不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質(zhì)材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。
測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。
詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》點擊進入
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩(wěn)定性好、智能化程度高、測量簡便、結(jié)構(gòu)緊湊、使用方便等特點。
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。
三、基本技術(shù)參數(shù)
3.1 測量范圍
電 阻:1×10-4~2×105 Ω ,分辨率:1×10-5~1×102 Ω
電阻率:1×10-4~2×105 Ω-cm,分辨率:1×10-5~1×102 Ω-cm
方 阻:5×10-4~2×105 Ω/□,分辨率:5×10-5~1×102 Ω/□
3.2 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式?jīng)Q定)
直 徑:SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限
SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
長(高)度:測試臺直接測試方式 H≤100mm, 手持方式不限.
測量方位: 軸向、徑向均可
3.3. 4-1/2 位數(shù)字電壓表:
(1)量程: 20.00mV~2000mV
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.4 數(shù)控恒流源
(1)量程:0.1μA,1μA,10μA,100µA,1mA,10mA,100mA,1A
(2)誤差:±0.1%讀數(shù)±2 字
3.5 四探針探頭(選配其一或加配全部)
(1)碳化鎢探針:Φ0.5mm,直線探針間距1.0mm,探針壓力: 0~2kg 可調(diào)
(2)薄膜方阻探針:Φ0.7mm,直線或方形探針間距2.0mm,探針壓力: 0~0.6kg 可調(diào)
3.6. 電源
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗:<20W
3.7.外形尺寸:
主 機 220mm(長)×245 mm(寬)×100mm(高)
凈 重:≤2.5kg
產(chǎn)品名稱:砂漿干料流動度測定儀(跳桌法) 干料流動度測定儀 產(chǎn)品型號: NLD-4A |
砂漿干料流動度測定儀(跳桌法) 干料流動度測定儀 型號: NLD-4A
本測定儀依據(jù)《客運專線鐵路CRTSII型板式無砟軌道水泥乳化瀝青砂漿暫行技術(shù)條件》干料擴展度試驗方法試驗要求設計生產(chǎn),控時控轉(zhuǎn)準確,滿足試驗的需要。、
主要技術(shù)參數(shù):
1、振動部分總重量: 4.35k g±0.15 k g
2、振動部分落差: 10mm ± 0.2 mm
3、振動頻率: 1Hz
4、振動次數(shù): 15 次自停
5,振動時間;15S
6、凈重:≈ 20k g
產(chǎn)品名稱:礦用本安手機KT110-S 產(chǎn)品型號:KT110-S |
礦用本安手機KT110-S 型號:KT110-S
主要技術(shù)指標:
電池類型:可充電錳酸鋰電池;電池型號:hx-01
電池規(guī)格:3.7v 750mah
高開路電壓≤ 4.2v
大短路電流≤3.0a
大工作電流:≤450ma
待機電流:≤20ma
發(fā)射功率:210mw;(50%~120%)