半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng) 型號(hào):RCD-6311 -X
RCD-6311 -X系列半導(dǎo)體激光器測(cè)試系統(tǒng)是一種不需附加手段, 在半導(dǎo)體激光器生產(chǎn)線環(huán)境條件下能直接、快速、準(zhǔn)確測(cè)量各種輸出形式(包括直接輸出、準(zhǔn)直輸出和光纖耦合輸出等)的半導(dǎo)體激光器件參量的儀器。具有測(cè)試參數(shù)范圍廣、功能齊全、自動(dòng)化程度高、操作使用方便可靠、測(cè)試精度高等特點(diǎn)。尤其在大功率管芯直接輸出激光參量測(cè)試方面是其它儀器所無(wú)法替代的。
該系統(tǒng)由探測(cè)器、采樣器、角度控制器、信號(hào)處理器、計(jì)算機(jī)等單元組成。根據(jù)用戶的測(cè)試要求選擇配置。 可以測(cè)量: 激光輸出功率、電流曲線(P-I)、管壓降、電流曲線(V-I)、 閾值電流(Ith)、工作電流(Io)、工作電壓(Vo)、斜率效率(Es)、微分電阻(Rd)、功率效率(Ep)、發(fā)射光譜(λ, δλ)。
同時(shí),可以根據(jù)用戶需求訂制個(gè)性化產(chǎn)品。
入射窗孔徑 | Φ15~25 mm |
激光功率測(cè)量范圍 | 0~20W、0~200W、0~2000W、0~5000W可選 |
不確定度 | 5% |
工作電流測(cè)量范圍 | 0~2A、0~50A、0~150A可選 |
不確定度 | 3% |
發(fā)散角測(cè)量范圍 | -60~+60度 |
光譜測(cè)量范圍 | 600nm~1000nm, 分辨率 0.4nm |
校準(zhǔn)波長(zhǎng) | 808nm或用戶的其它波長(zhǎng) |
電壓測(cè)量范圍 | 0~4V、0~50V、0~150V可選 |
驅(qū)動(dòng)電源 | 連續(xù)電源 0~2A, 4V、0~50A,40V可選 |
脈沖電源 | 0~50A、0~150A, 200V可選 |
| 可根據(jù)用戶需求訂制 |